7月8日-10日，中國機器視覺展在上海盛大舉行，凌云光攜多款創新展品精彩亮相，聚焦AI+Vision為工業制造注入新質生產力。

BeamMaster M² 光束質量分析儀

BeamMaster M²是一種用于測量和評估激光光束質量的儀器，通過測量M²質量因子等參數來表征激光光束的質量，一體化設計精致小巧，配置高精度電動導軌及高分辨率相機捕捉激光光斑的圖像，通過圖像處理軟件分析光斑的形狀、質心、有效直徑、光束發散角、束腰直徑、瑞利長度、M²質量因子等參數，實現快速一鍵式測量。廣泛應用于光學、激光技術、光纖通信、材料加工等領域，精確控制和優化激光光束的質量。

高速真彩色線掃相機

SF6300系列萬兆網線掃相機，使用最新多線TDI技術芯片，輸出高靈敏度圖像。相機分辨率8K/16K，支持黑白/彩色，最高行頻可達200KHz，支持標準GenICam協議。設計多種應用專屬ISP預處理功能，如分時頻閃、多光場控制、空間校正、色彩矯正等算法功能。適用于鋰電、光伏、PCB、印刷、半導體等高精端工業檢測場景。

短波紅外顯微自動對焦系統

紅外顯微自動對焦系統是由凌云光最新研發的2k分辨率紅外線掃相機搭配自動對焦系統。2K分辨率紅外短波線掃相機，對于硅基產品、膜材產品具備較好穿透能力，特別適合半導體等行業產品內部特征識別及缺陷檢測。自動對焦系統重復定位精度可達0.15μm，模塊化設計，可針對不同產品的精度、特征等需求定制方案。廣泛適用于半導體顯微、半導體內部缺陷檢測、FPD線路檢測等高精度需求場景。

電池片PL檢測組件

SR-PD系列PL檢測模組為高功率激光、相機、鏡頭一體機?；诠庵掳l光原理，無接觸檢測方案，針對光伏電池片中的隱裂、霧狀、發黑、吸盤印、石墨舟印、同心圓、皮帶印、臟污等缺陷檢測，同時不會造成二次隱裂缺陷，大幅度提升產線良率，減少不良片流入后段工序導致的物料浪費、產線停機。
此外現場還展出了16KTDI高速背照式線掃相機、高性能棱鏡真彩色線掃相機、高性能板級面陣相機、應對惡劣環境面陣相機、邊緣端智能處理器、紅外、線掃全系列相機等創新產品及應用吸引了眾多觀眾互動，沉浸式體驗產品魅力。
未來，凌云光將以”AI+VIsion”技術為引擎，持續在機器視覺領域不斷推陳出新，為行業客戶提供創新產品與服務，助力智能制造從感知互聯走向萬物智能，推動行業高質量發展。